OYOの豊富な現場実績を集約して開発された、高精度なS波速度構造解析技術です。

高精度表面波探査は、地盤の地表付近を伝わる表面波（レイリー波）を多チャンネルで測定・解析することにより深度20m程度までの地盤のS波速度を二次元断面として画像化する技術です。測定・解析が簡単なため、素早く低コストでS波速度構造を求めることができます。S波速度は物質の硬さなど工学的な目安となる剛性率に直接関係する値であり、地盤の動的特性の把握・検討などには不可欠なパラメータですが、表面波探査を用いることにより広範囲のS波速度構造を簡単に把握することができます。

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地盤のS波速度を簡単に求めることができます。

広い範囲を迅速かつ安価に調査できます。

測定・解析が簡単です。

解析結果はわかりやすいカラーS波速度断面図となります。

火薬は必要ありません。