ED蛍光X線分析装置
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ED蛍光X線分析装置
　 　 ●概　要 　 　

エネルギー分散型蛍光X線分析装置はX線管からの一次X線を試料に照射し、発生した蛍光X線を半導体検出器システムで計測することによって、その試料の形態（個体、粉体、液体等）に拘わらず、非破壊で元素の定性・定量分析を可能にするものです。

大学・研究機関での分析、工場での品質管理、環境分析、科学捜査、考古学調査等に幅広く利用が可能です。

※写真はOURSTEX120ll型です。

※製造元：アワーズテック株式会社
　 　

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  • 世界初のダイレクト法、モノクロメータ法、フィルタ法の励起光学系を一体装備　したエネルギー分散型X線分析装置です。（特許出願中）従って、高分解能、高感　度分析が可能です。
    ※ 測定原理図（JPEG：35KB）
  • 世界最小の携帯型です。（OURSTEX100F型）測定プローブ部：305×120×163.5mm：重量5kg　コントローラ部：重量13kg
  • どのような試料形状でも、簡単に非破壊測定ができます。可搬式ですから形状対　象物の側に運んで測定できます。
  • 試料の測定面が小さく（〜3mmφ）、部位を特定して測定できます。測定ポイン　ターで位置決めします。定量測定などの面処理も面積が小さく容易です。
  • 分光室のみの分離真空保持が可能です。粉体、液体、生体など試料形態を問わず　分析が容易です。
  • タッチ操作で全自動測定です。※下記リンクをクリックすると各画面が見られます。
    設定：（JPEG：19    KB）、測定：（JPEG：30KB）、結果表示（定性）：（JPEG：27KB）、結果表示（定量1）：（JPEG：23KB）
    結果表示（定量2）：（JPEG：23KB）
  • 自動定性分析、定量分析プログラムを標準装備しています。組成の自動定性、検　量線定量プログラムに加えて、標準試料の不要なFP法を装備（オプション）して　います。メッキ、薄膜の膜厚測定にも適用できます。
  • 新開発の電子冷却式半導体検出器を用いて液体窒素などの冷却は不要です。
  • 電源はAC100V-5Aだけです。冷却水も不要です。携帯可搬型用はポータブル発電　機、直流電源DC24V、DC12V（オプション）に対応しています。
  • インライン計測センサとして設置、LANを構成できます。
　 　

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■OURSTEX100シリーズ共通仕様
測定原理
 　エネルギー分散型蛍光X線分析法
X線出力
 　45kV-2mA　50W
X線照射径
 　〜3mmφ
試料室雰囲気
 　大気（真空はオプション）
検出器
 　シリコンドリフトディテクタ（SDD）
操作入力
 　タッチパネル
分析ソフトウェア
 　自動定性分析、検量線法定量分析、FP法定量分析（オプション）
■OURSTEX100Fll：可搬型蛍光X線分析装置
測定元素範囲
 　12Mg〜92U
X線管ターゲット
 　Pd
試料サイズ
 　φ50mm×40mmH（密閉使用時、max）
外形寸法
 　プローブ部：305×120×163.5mm/重量：5kg
　コントローラ部：395×290×245mm/重量13kg　※詳しくはこちらをクリックしてください。（JPEG：14KB）
　真空ポンプ：177×190×132mm/重量3kg
調査対象
 　フィールド分析：環境汚染調査、探鉱、犯罪調査、考古学調査、工場、倉庫での品種判別
　インライン計測：選別測定、膜厚計測
■OURSTEX120ll：環境分析用蛍光X線分析装置
測定元素範囲
 　19K〜92U
X線管ターゲット
 　Mo
試料サイズ
 　φ60mm×50mmH（max）
外形寸法
 　586×350×367.5mm/重量：35kg
調査対象
 　環境分析用モデル
　土壌中の有害元素Cd　Pb　As　Se　Hg　Cr　Cu分析に高感度
　試料量3グラムで測定可能　※分析例の一例（JPEG：25KB）

●その他

各種付帯器具（オプション）を用意しています。

設置条件

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